Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:22694302 > Defect characteriza...

Defect characterization of electron beam melted Ti-6Al-4V and Alloy 718 with X-ray microtomography [Elektronisk resurs]

Neikter, Magnus 1988- (författare)
Forsberg, Fredrik (författare)
Pederson, Robert (författare)
Antti, Marta-Lena (författare)
Åkerfeldt, Pia (författare)
Larsson, Simon (författare)
Jonsén, Pär 1971- (författare)
Puyoo, Geraldine (författare)
Luleå tekniska universitet Institutionen för teknikvetenskap och matematik (utgivare)
Luleå tekniska universitet Institutionen för teknikvetenskap och matematik (utgivare)
Luleå tekniska universitet Institutionen för teknikvetenskap och matematik (utgivare)
MedCrave Group 2018
Engelska.
Ingår i: ; 2:3, 139-145
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
  • E-artikel/E-kapitel
Sammanfattning Ämnesord
Stäng  
  • Electron beam melting (EBM) is emerging as a promising manufacturing process where metallic components are manufactured from three-dimensional (3D) computer aided design models by melting layers onto layers. There are several advantages with this manufacturing process such as near net shaping, reduced lead times and the possibility to decrease weight by topology optimization, aspects that are of interest for the aerospace industry. In this work two alloys, Ti-6Al-4V and Alloy 718, widely used within the aerospace industry were investigated with X-ray microtomography (XMT), to characterize defects such as lack of fusion (LOF) and inclusions. It was furthermore possible to view the macrostructure with XMT, which was compared to macrostructure images obtained by light optical microscopy (LOM). XMT proved to be a useful tool for defect characterization and both LOF and un-melted powder could be found in the two investigated samples. In the EBM built Ti-6Al-4V sample high density inclusions, believed to be composed of tungsten, were found. One of the high-density inclusions was found to be hollow, which indicate that the inclusion stems from the powder manufacturing process and not related with the EBM process. By performing defect analyses with the XMT software it was also possible to quantify the amount of LOF and un-melted powder in vol%. From the XMT-data meshes were produced so that finite element method (FEM) simulations could be performed. From these FEM simulations the significant impact of defects on the material properties was evident, as the defects led to high stress concentrations. It could moreover, with FEM, be shown that the as-built surface roughness of EBM material is of importance as high surface roughness led to increased stress concentrations. 

Ämnesord

Engineering and Technology  (hsv)
Materials Engineering  (hsv)
Metallurgy and Metallic Materials  (hsv)
Teknik och teknologier  (hsv)
Materialteknik  (hsv)
Metallurgi och metalliska material  (hsv)
Engineering and Technology  (hsv)
Materials Engineering  (hsv)
Other Materials Engineering  (hsv)
Teknik och teknologier  (hsv)
Materialteknik  (hsv)
Annan materialteknik  (hsv)
Engineering and Technology  (hsv)
Mechanical Engineering  (hsv)
Fluid Mechanics and Acoustics  (hsv)
Teknik och teknologier  (hsv)
Maskinteknik  (hsv)
Strömningsmekanik och akustik  (hsv)
Engineering and Technology  (hsv)
Mechanical Engineering  (hsv)
Applied Mechanics  (hsv)
Teknik och teknologier  (hsv)
Maskinteknik  (hsv)
Teknisk mekanik  (hsv)
Engineering Materials  (ltu)
Materialteknik  (ltu)
Strömningslära  (ltu)
Fluid Mechanics  (ltu)
Hållfasthetslära  (ltu)
Solid Mechanics  (ltu)

Indexterm och SAB-rubrik

X-ray tomography
Ti-6Al-4V
Alloy 718
defects and electron beam melting
Inställningar Hjälp

Beståndsinformation saknas

Om LIBRIS
Sekretess
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Uppsök

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy